一种实用的VXI总线寄存器基接口电路的设计

控制、寄存器配置四部分组成。
　　
　　在VXI器件中，寄存器配置步骤是必不可少的，VXI寄存器基器件主要配置寄存器有：识别/逻辑地址寄存器、器件类型寄存、状态/控制寄存器。在接口电路的性质特性明确的前提下，寄存器基器件的配置是确定的，所以直接在可编程器件中实现，且更改也很方便。以下列出的是VXI寄存器基接口电路的主要逻辑表达式（用AHDL语言格式）：
　　
　　VXIENA=AS#！IACK#！A14#！A15#！AM5#AM4#！AM3#AM1#！AM0；
　　
　　MYVXIENA=VXIENA#（A6$Q0）#（A7$Q1）#(A8$Q2)#(A9$Q3)#(A10$Q4)#(A11$Q5)#(A12$Q6)#(A13$Q7);
　　
　　ACKED=(TX1$A1)#(TX2$A2)#(TX3$A3)#IACK#!SYSRST#!IRQPEND#AS#IACKIN;
　　
　　DTACKNODE=!(DS0&DS1#MYVXIENA&ACKED);
　　
　　DRACK=DFF(DTAKNODE,SYSCLK,VCC,VCC);
　　
　　IOENA=MYVXIENA#DS0&DS0&DS1#!LWORD;
　　
　　IACKOUT=AS#IACKIN#!ACK;
　　
　　需要注意的是，在使用中由于部分信号线与VXI背板总线连接时需要采用集电极开路方式接入，如DTACK*、SYSFAIL*、BRx*等，所以应增加一级集电极开路门电路后再与VXI背板总线连接。
　　
　　接口电路调试有两种方式，一是利用LabWindow/VCI开发工具预先编好一个带操作软面板的调试程序，它包含有各项功能调试控件和相关信息显示窗。在调试电路时只需根据提示在软面板上操作，就可及时得到信息显示。这种调试电路方法方便、直观，但由于调试程序的封装会使得调试细节不透明。另一种形式是在NI公司提供的VXI资源管理器中对端口电路进行操作、调试。这种方法是硬件开发人员主要采用的形式。主要过程为：先打开T&MExplore对VXI系统初始化；启动VXI系统初始化；启动VXIInterActiveControl面板，在BusAccess中通过修改偏移地址（Offset）、输出值（Value）和观察输入值来对接口电路进行调试。在调试过程中，为便于数据或波形的稳定测试、观察，一般将输出数据的循环次数（count）设成一个较大数。这种调试方式虽然不很直观，但却非常灵活，容易发现硬件电路细节不足。
　　
　　在VXI接口电路设计方面，只要遵循VXI总线协议，其具体实现方法多种多样。本文从VXI总线协议出发详细阐述了一种VXI寄存器基接口电路的设计方法和工作原理，并介绍了可编程器件实现方法和调试方法。用可编程电路使VXI接口电路模块化、格式化，可缩短VXI总线器件的研制周期、缩小器件体积，提高器件的可靠性。该接口电路已在VXI数字I/O、VXI特征分析仪中使用。随着仪器仪表技术、虚拟仪器技术的发展，VXI总线作为高性能测试系统仪器的背板总线，将在航空航天、雷达、通讯等领域的测试中占据越来越重要的地位，开发高性能VXI总线器件是目前较热门的研究方向

《一种实用的VXI总线寄存器基接口电路的设计(第3页)》