一种新颖的无源无损缓冲电路的分析与工程设计
Vt为MOSFET开启阈值电压;
gfs为跨导;
Rg为栅极驱动电阻。
因此,MOSFET关断损耗可以用式(13)估算,即
Woff=(ICdg/ig-Cr)Vin/2-Wcd (13)
式中:Cr<ICdg/ig-2Wcd/Vin,否则Woff=0;
Wcd是漏源寄生电容中存储的能量。
忽略漏源寄生电容中存储的能量Wcd,加入该无源无损缓冲电路后主开关MOS管的损耗即可按式(14)估算,即
因此,从减小MOSFET开关损耗的角度考虑,缓冲电容Cr可以取得最优值,即
Cropt=(ICdg/ig)=(IRgCdg/Vdrive) (15)
式中:Vdrive为驱动电路输出的驱动信号高电平值。
据式(14),缓冲电感Lr增大,MOS管的开关损耗变小;另一方面,由式(8)和式(9)可知,在其它条件不变的情况下,Lr越大,缓冲电路在MOS管开通和关断过程中工作的时间ton与toff就越长,为保证电路正常工作,须满足
ton≤DminTs,toff≤(1-Dmax)Ts (16)
因此,缓冲电感Lr的取值应在保证适当的ton及toff的条件下尽可能的大,以降低S损耗。式(8)中当I=Imax时ton最大,式(9)中当I=Imin时toff最大,即为缓冲电路工作时间的最差情况,在该条件下将式(8)及式(9)代入式(16),可求得谐振角频率ωr的最大值,记为ωrm。于是,可知缓冲电感Lr的最优值Lropt为
Lropt=1/wrmCropt (17)
式中:ωrm为ωr的最大值;
Cropt为Cr的最优值。
综上所述,该无源无损缓冲电路的参数可以按照下面的步骤进行设计。
1)设Zr=,式(7)得以满足,这是为了在阶段7中使Lr中的电流能恢复到I,以保证S在下一次开通过程中获得零电流开通条件。
2)可取x=Cr/Cs=0.05,x的取值须满足式(6),x<kc=4.5,同样是为了保证S的ZCON条件。较小的x值使得该条件更容易满足。另一方面,由式(3)及式(4)可知,较小的x值还有利于降低D的电压应力。
3)按照前述的方法求出满足ton≤DminTs,toff≤(1-Dmax)Ts条件的最大的ωr值ωrm。
4)按照式(18)、式(19)和式(20)计算经过优化后的Cr,Cs和Lr参数,即
Cropt=IRgCdg/Vdrive (18)
Lropt=1/wrmCropt (19)
Csopt=Cropt/0.05 (20)