基于PIC单片机的便携式测试记录仪设计

的表头参数判断当前数据片是否已写满。若已写满，则在ＬＣＤ上显示无写空间标记代码，然后返回休眠状态；否则，将记录写入记录指针所指向的数据片中，同时对表头参数进行修改。在写过程中，重要的是处理疵点单元。尽管２４ＬＣ６５在写过程中出现的疵点概率极少，但若不正确处理，则会导致目标数据丢失甚至出现系统死机现象。作者曾采用数据轮询技术进行容错处理，收到了良好的效果。其基本思想是：每当在数据线上写完１字节数据后，便反复查询２４ＬＣ６５回送的应答信号，但最多不超过５０次（此数足够２４ＬＣ６５写入时间）；若超过查询次数仍无应答信号，便认为该单元为疵点单元，将其地址记入疵点单元地址队列，并使疵点单元计数器加１，然后在下一比邻单元继续写入原数据。如果连续两单元为疵点单元，则认为整个芯片有问题，此时，在ＬＣＤ上显示该单元所在的芯片号（芯片号参见图１），然后，返回休眠状态。
　　
　　对读来说，首先判断数据片是否为空。若为空，则在ＬＣＤ上显示无记录标记代码，然后返回休眠状态。否则，继续判断数据片是否有疵点，如果无疵点，则从数据片首址开始按序读出所有记录；否则，在按序读记录过程中，根据疵点单元地址队列内容，跳过所有疵点单元，以保证读出的记录连续、真实、可靠。
　　
　　２．２．２采集驱动程序设计
　　
　　Ａ／Ｄ转换器ＭＡＸ１８９所带串口与单片机ＰＩＣ１６Ｃ７４的ＳＰＩ口完全兼容。因此，在Ａ／Ｄ转换完成后，只要启动单片机ＳＰＩ口产生１３个同步时钟脉冲便可连续两次从ＳＰＩ数据缓冲器上获得１２位转换结果。由于本记录仪采集的参数个数依现场安装的传感器数不同而不同，因此，驱动程序必须能予以自动识别。图２为采集驱动程序流程，其基本设计思想是：首先读识别片，以确定实际安装的传感器数量，然后从０通道传感器开始进行采集，直到实际安装的最后一个传感器采集完毕为止。图２中：ＣＨＡＮ：通道寄存器；ＣＯＵＮＴ：传感器数量寄存器。
　　
　　３测试设计
　　
　　测试设计是通过测试程序完成对记录仪本身各功能硬件的性能测试。测试程序独立于实际应用程序，在单独的单片机中，使用时只要拔掉记录仪模板上的单片机而用其代之即可。测试程序设计的基本思想是：首先根据不同测试对象（即部件）产生不同的测试数据和测试期望数据，然后以测试数据为入口参数，调度相关驱动程序产生目标数据，最后用测试期望数据与目标数据进行比较，以此判断所测硬件性能之良劣。
　　
　　３．１Ｅ２ＰＲＯＭ测试设计
　　
　　Ｅ２ＰＲＯＭ测试需要与ＰＣ机通讯。其基本原理是：首先产生８种测试数据：０ｘ００、０ｘｆｆ、０ｘ５５、０ｘａａ、０ｘ０ｆ、０ｘｆ０、０ｘ５ａ、０ｘａ５（０ｘ表示１６进制数），然后分别以此８种测试数据为入口参数，交替调度写、读Ｅ２ＰＲＯＭ驱动程序３次（即先写后读３次）。每读一次，与测试期望数据（此处测试数据与测试期望数据相同）进行比较，若不相等，则对相应片错误计数器加１。测试结果实时地显示在记录仪ＬＣＤ和ＰＣ机上。ＬＣＤ只显示总错误个数，ＰＣ机则依次显示、保存总错误个数及错误单元地址。
　　
　　３．２Ａ／Ｄ测试设计
　　
　　Ａ／Ｄ测试也需要与ＰＣ机通讯。由于本记录仪最多可采集８路传感器参数，因此，测试程序对键盘重新定义如下：当手动、自动、通讯、打印、清零键有键按下时，对应测试０～４通道传感器；当手动、自动、通讯键其中之一与清零键同时按下时，则对应测试５～７通道传感器。测试只对放大器满量程的１０％、５０％、９０％等３点进行采集

《基于PIC单片机的便携式测试记录仪设计(第3页)》