测试系统中干扰及其形成机理

路，形成干扰源。
　　
　　对于平行导线，由于分布电容较大，容性耦合较严重。在图3（a）中，导线1和导线2是两条平行线，C1和C2分别是各线对地的分布电容，C12是两线间分布的耦合电容，V1是导线1对地电压，R是导线2对地电阻。由图3（b）等效电路可得导线1电压通过耦合导线2上产生的电压V2为：
　　
　　
　　
　　当R>>1/jω(C12+C2)时，式（1）可简化为：
　　
　　V2=C12V1/（C12+C2）（2）
　　
　　此时V2按电容分压，这种耦合情况是严重的。
　　
　　当R<<1/jω(C12+C2)时，则式（1）可简化为：
　　
　　V2=jωC12RV1(3)
　　
　　由式（1）、（2）、（3）可知，容性耦合干扰随着耦合电容的增大而增大。
　　
　　2.3.2感性（磁性）耦合
　　
　　当干扰源是以电流形式出现的，
　　
　　
　　
　　此电流所产生的磁场通过互感耦合对邻近信号形成干扰。图4是互感耦合示意图，两邻近导互之间存在分布互感M,M=φ/I1（其中，I1是流过导线1的电流，φ是电流I1产生的与导线2交线的磁通），由互感耦合在导线2上形成的互感电压为V2=2ωMI1,此电压在导线上是串联的。从式中可知V2与干扰的频率和互感量成正比。
　　
　　2.4测试系统内部的其它干扰
　　
　　测试系统由于设计不良或某些器件在工作时会形成干扰。这些内部干扰一般比较微弱，但对于小信号高精密测试系统来说却不可忽视。
　　
　　2.4.1温差电势
　　
　　当电流回路的导线采用不同的金属，并且在连接处具有不同的温度时，则在回路内将产生温差电势。在图5中，如一支路R为康铜，另一支路RL为铜，则温差电势V0=V01-V02=1～100μV，此电势将叠加到测量电压Vm上，使得终结果为Vm+V0。
　　
　　2.4.2电阻热噪音
　　
　　热噪音是电阻一类导体由于电子布朗运行而引起的噪音。导体中的电子始终在作随机运行，并与分子一起处于平衡状态。电子的这种随机运行将会产生一个交流成份，这个交流成份就称为热噪音（或称为电阻噪音）。热噪音可用尼奎斯特公式计算，其中k为波尔兹曼常数，k=1.3804×10-23J/K，T为绝对温度（K），R为电阻值（Ω），Δf为所考虑的频带（Hz）。当T=300K，R=1MΩ，Δf=400Hz时，热噪音电压。
　　
　　2.4.3转接干扰
　　
　　电路转接过程中通常会产生干扰脉冲，此干扰脉冲又可能引起另一次不希望的转接过程。这种转接过程脉冲一般可用接上电容或二极管来减小。
　　
　　2.4.4微音干扰
　　
　　机械颤动、接触电阻的变化或电缆电容（或电感）的变化，均会产生微音干扰。
　　
　　2.4.5压电效应干扰
　　
　　弯折电缆时，若介质中产生机械力，就会引起压电效应干扰。例如，感应电荷为Q=10-10A·s，电缆电容率C/L=100pF/m，电缆长度L=5m，电缆电容C=500pF，则弯折电缆时产生的电压为：
　　
　　V=Q/C=10-10/(5×100×10-12)=200（mV）
　　
　　弄清楚干扰源是首要条件，否则抗干扰措施都无从下手。为达到抑制干扰的目的，本文所着重

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