基于边界扫描的EPM9320LC84电路板故障诊断

到更新寄存器，再由更新寄存器驱动测试信号并将其输出至Ｉ／Ｏ引脚。对于单芯片电路板来说，无论是输入引脚，还是在引脚发送测试图形时，其控制三态均应为输出状态，即令ＯＥＪ更新寄存器为１。

３．２ 数据采集

数据采集的目的是得到引脚对测试图形的响应。如果引脚正确，输出的测试图形就等于采集到的测试图形，如果引脚出现故障，两者必有差异。由于采集到的测试数据就是故障诊断的依据，所以能否正确、合理地采集到数据是数据采集的关键。单芯片电路板不像多芯片那样利用ｓａｍｐｌｅ模式采集数据，而是仍旧利用ｅｘｔｅｓｔ模式来采集数据。

图２是利用ｓａｍｐｌｅ模式采集数据的原理图。在捕获阶段，由ＯＥＪ和ＯＵＴＪ来控制三态门状态，以使电路板上三态输入引脚为高阻状态，三态输出引脚为输出状态。由于采集的数据是引

脚的实际状态，而不是引脚对输出测试图形的响应，故用ｓａｍｐｌｅ模式不能正确地采集测试图形以用于故障诊断。

图３是利用ｅｘｔｅｓｔ模式在捕获阶段进行数据采集的示意图，图中的三态门受ＯＥＪ、ＯＵＴＪ更新寄存器控制，而这两个寄存器的数值是发送测试图形时的值，三态有效。所以它所采集的数据即为引脚对测试图形的响应，可以满足采集要求。

４　测试算法

电路板常见故障模型有呆滞型故障、固定开路故障和短路故障。为了消除误判和混淆故障及提高诊断速度，可在算法上结合电路结构对自适应算法和ＣＸ－ＴＢ导通测试算法以及二进制计数测试序列进行改进，以对引脚全部的短路故障、呆滞故障进行完备诊断。具体步骤如下：

（１）引脚分类

电路图中的引脚可分为输入、输出、输入／输出、空闲、专用输入、地／电源、ＮＣ几类。由于专用输入引脚边界扫描结构没有更新寄存器，所以测试图形无法输出到引脚?因此不能用此方法测试。而地／电源引脚、ＮＣ引脚不带有边界扫描结构所以也不能测试。故此，真正能进行测试的引脚只有前四类。可令ｎ等于前四类引脚数目的总和。

（２）生成测试向量

按照引脚号对前四类引脚进行从小到大排序，序号为：０到ｎ－１，然后计算ｌｏｇ２(ｎ＋２）的值，再根据有余进一的原则算出并行测试向量个数ｍ。为避免出现误判，可从０００……１开始进行二进制计数，以形成测试向量，其行数为ｎ，列数为ｍ。

（３）发送测试向量

（４）采集测试结果

（５） 添加测试图形

比较测试序列与采集到的结果，确定异常行（总数Ｗ）。为避免混淆和误判故障，可进一步添加Ｃ个为全０或全１码的测试图形。

（６）故障诊断

该算法具有故障定位准确，测试周期短，测试效率高等特点。

５　故障诊断

由于ＥＰＭ９３２０ＬＣ８４芯片采用ＣＭＯＳ工艺制作，因此，它的引脚与地、电源短路分别归为呆滞于０和呆滞于１；器件引脚悬空也归为呆滞于０。其引脚互连测试图形是“与”逻辑。

具体诊断时，可比较输出测试图形与采集测试图形的差异，相同即为正常行，不同则为异常行。诊断过程如下：

●若异常行和正常行的测试向量相同，则添加测试图形令异常行并行测试向量为全０，其余行测试向量为全１，而对于发送、采集添加的测试向量，若正常行采集结果为全０，则正常行与异常行对应引脚互连。否则必有其它脚与异常行对应脚互连。

●如果异

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