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铜,则温差电势V0=V01-V02=1~100μV,此电势将叠加到测量电压Vm上,使得终结果为Vm+V0。
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2.4.2 电阻热噪音
热噪音是电阻一类导体由于电子布朗运行而引起的噪音。导体中的电子始终在作随机运行,并与分子一起处于平衡状态。电子的这种随机运行将会产生一个交流成份,这个交流成份就称为热噪音(或称为电阻噪音)。热噪音可用尼奎斯特公式计算,其中k为波尔兹曼常数,k=1.3804×10 -23J/K,T为绝对温度(K),R为电阻值(Ω),Δf为所考虑的频带(Hz)。当T=300K,R=1MΩ,Δf=400Hz时,热噪音电压。
2.4.3 转接干扰
电路转接过程中通常会产生干扰脉冲,此干扰脉冲又可能引起另一次不希望的转接过程。这种转接过程脉冲一般可用接上电容或二极管来减小。
2.4.4 微音干扰
机械颤动、接触电阻的变化或电缆电容(或电感)的变化,均会产生微音干扰。
2.4.5 压电效应干扰
弯折电缆时,若介质中产生机械力,就会引起压电效应干扰。例如,感应电荷为Q=10 -10A·s,电缆电容率C/L=100pF/m,电缆长度L=5m,电缆电容C=500pF,则弯折电缆时产生的电压为:
V=Q/C=10 -10/(5×100×10 -12)=200(mV)
弄清楚干扰源是首要条件,否则抗干扰措施都无从下手。为达到抑制干扰的目的,本文所着重论述的干扰源的情况,都是笔者多年在设计及工作实践中的体会。值得一提的是:在测试系统中,干扰的来源是非常复杂的,并非所有干扰都会同时出现在同一个测试系统中,在实践操作过程中,只有根据现场的具体情况来取舍。
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